인텍플러스, 표면 형상 측정 시스템 美 특허 취득

입력 : 2012-08-07 오전 11:00:57

[뉴스토마토 홍은성기자] 인텍플러스(064290)는 7일 표면 형사 측정 시스템와 이를 이용한 측정 방법에 관해 미국 특허를 취득했다고 공시했다.

 

회사측은 “이 발명은 측정물 전체 면적에 대한 검사를 수행하는 대신 특정 영역에 대해서만 3차원 검사를 수행할 수 있도록 하는 표면 형상 측정 시스템”이라며 “이 특허를 이용해 외관검사장비의 경쟁력을 강화하겠다”고 밝혔다.

 

 

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홍은성 기자

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